Forskere i Japan er Teikyo Universitetet har foreslått en ny metode for å kvantitativt estimat spenning celler i operativ PV-moduler.

Den nye modellen – som forskerne beskrive i Et forslag til en prosedyre for å beregne en standard linje for kontaktløs estimering av en solcelle spenning i en modul ved hjelp av naturlig lys, nylig publisert i Elektroteknikk i Japan og er utformet for å anslå celle spenning i solcellepaneler ved irradiating cellene med en svak modulert laser lys.

Forskerne sa at de anslo en standard linje modell på forhånd med delvis skyggelagt moduler, og som deretter kan brukes til celle spenning i panelene under normale forhold uten skravering. Den foreslåtte modellen er basert på antagelsen om at modul-utgang respons på en gitt celle bestrålt med naturlig lys er avhengig av en celle ' s driftsspenning.

"Å utnytte det faktum at celle spenning i en delvis skyggelagt modulen kan enkelt anslått, vi foreslått en kvantitativ modell ved hjelp av en standard linje for å beregne celle spenning i en modul under normale (nonshaded) forhold," forskning gruppe er oppgitt.

Når celler bestrålt med naturlig lys, sin jeg‐V-kurven skifter mot positive gjeldende, og den gjeldende i andre celler i en modul forblir uendret, men opererer punktet endringer bare i det bestrålte celle, sa de. De testet modellen på en PV-modulen med fem-serien‐som er koblet identiske polykrystallinsk celler gjennom en solar simulator. Panelet ble bestrålt med simulerte sollys fra en høyde på ca 36 cm, med sollys pulserende på 100 Hz rundt 120 W/m2.

Måling av driftsspenningen av en solcelle i et PV-modulen er nøkkelen til å oppdage hot spots og andre panelet nedbrytning slike spørsmål som potensielle indusert nedbrytning (PID) peeling, sprengning, og dårlig kontakter. Forskningsgruppen sa den foreslåtte metoden kan utfylle andre teknologier som mål celle spenning som thermographic kameraer, måling av jeg‐V kurver, og electroluminescence (EL) bildebehandling. De hevdet også at den nye modellen har den fordelen av å spare inspeksjon tid og krefter, som paneler kan analyseres mens de er faktisk opererer, og ikke atskilt fra systemet.

Forskerne sa at de ytterligere kan forbedre den nye metoden gjennom computational verifisering av moduler som inneholder celler med varierende ytelse nivåer. De kan også stole på eksperimentell verifisering ved hjelp av moduler som opererer under ulike betingelser, og de kan utvide standard linje modell for å moduler som inneholder celler med en lav fylle faktor, blant andre ting.